一、概述：
物位測量的儀表在選型時，與壓力或流量測量等儀表有很大不同。這是因為物位測量的現(xiàn)場情況千差萬別，而生產商又很難設計出能滿足所有工況應用的物位儀表。只有充分了解儀表特點及現(xiàn)場應用條件，才能正確選擇所需要的產品，同時充分發(fā)揮儀表的測量性能。
在非接觸式物位測量儀表中，一般有超聲波物位計和雷達物位計兩種，而后者占有主要的地位. 這是因為雷達技術的應用近年來獲得了快速發(fā)展. 雷達物位計中高頻頭和天線是眼睛，回波處理是物位計的大腦。雷達物位計發(fā)出的電磁波遇到被測介質被反射，反射回波的質量反映了物位計應用效果。回波質量定義為最小回波幅度（在最惡劣條件下回波幅度）與最大噪聲幅度（虛假回波、多徑反射波等的幅度）之比。回波質量數(shù)值越大，物位計測量效果越好。
雷達物位計的回波質量主要受以下因素影響: 1.傳播介質的介電常數(shù)，該常數(shù)越穩(wěn)定越有利于傳播。雷達波是電磁波，電磁波在傳播過程中不受傳播介質穩(wěn)定程度的影響，只與其介電常數(shù)有關。這是雷達技術與超聲波技術的重大區(qū)別。2.被測介質表面狀況，表面越平整，其介電常數(shù)越大，則越有利于回波反射。
所以考慮現(xiàn)場情況時，應特別注意這兩個方面：1.天線到被測介質間空氣介電常數(shù)的分布。2.被測介質的表面狀態(tài)及其介電常數(shù)。
雷達物位計的優(yōu)點是：不受空氣波動影響，隨距離衰減小，穿透力強。
同時雷達物位計也存在一定的局限性；其一，影響雷達物位計的性能是介電常數(shù)，在真空中雷達衰減極小，當空氣中存在影響雷達衰減的物質時，例如：含高介電性的粉塵粉末（石墨，鐵合金等），水蒸氣等，其測量距離和效果都會受到影響。其二，如果被測介質的揮發(fā)氣體在天線上聚集，或水蒸汽在天線上聚結，此時，就會影響雷達波發(fā)射，嚴重時可導致雷達波不能發(fā)出。 其三，被測介質的介電常數(shù)不能太小。其四，盡管溫度和壓力對雷達影響極小，但由于雷達天線是由不同材料做成，雷達物位計可適應溫度和壓力的范圍取決于其天線所使用的材料，以及物位計本身的密封結構。
在超聲波物位計的應用中，要獲得比較好的回波，換能器工作頻率大約 40KHz，波長大約 9mm，這時發(fā)射波的開角為7°-8°。工作頻率越高，其開角越小，量程相對也較小。與超聲波物位計相比，雷達物位計要獲得上述效果的回波，其工作頻率應為 26GHz，此時，其波長為 11mm。當用口徑為 100mm的喇叭時，可獲得 7°-8°開角的發(fā)射波。如果雷達物位計的工作頻率為 6GHz，則相當于超聲波的工作頻率為 10KHz。而工作頻率為 10kHz的超聲波物位計在物位測量中各項指標都很不理想，不適于固體料位的測量。
二、雷達物位計的種類及應用：
雷達物位計目前已成為市場上的主流產品，主要分為脈沖雷達物位計和導波雷達物位計。低頻脈沖雷達物位計盡管具有價格相對低廉的優(yōu)點，但在主要應用領域中，屬于逐漸被淘汰的產品。
與低頻脈沖雷達物位計相比，高頻脈沖雷達物位計在應用過程中有以下優(yōu)點：
1．高頻雷達物位計（主要指 26GHz和 24GHz）具有能量高，波束角小，天線尺寸小，精度高等優(yōu)點。
2．26GHz雷達波長 11mm，6GHz雷達波長 50mm，雷達物位計在測量散裝料位時，雷達波反射主要來自料面的漫反射，漫反射的強度與物料大小成正比，與波長成反比，而大部份散裝料直徑遠遠小于 50mm，這就是目前 26GHz雷達是測量散裝料物位最佳選擇的原因。
3．在一些直徑小而高度并不是很高的小型罐的應用中， 6GHz雷達天線長（300-400mm）無形中增大了盲區(qū)（大約 600mm），另外由于6GHz雷達方向性差（開角大）在小罐中會產生多徑反射；而26GHz雷達頻率高，天線短，方向性好，克服了6GHz雷達的缺點，適用于小罐測量。
